TAILIEUCHUNG - Atomic Force Microscopy in Cell Biology Episode 1 Part 2

Tham khảo tài liệu 'atomic force microscopy in cell biology episode 1 part 2', kỹ thuật - công nghệ, cơ khí - chế tạo máy phục vụ nhu cầu học tập, nghiên cứu và làm việc hiệu quả | 22 Ricci and Braga 12. Tamayo J. Humphris A. D. Owen R. J. and Miles M. J. 2001 High-Q dynamic force microscopy in liquid and its application to living cells. Biophys. J. 81 526-537. 13. Burnham N. A. Behrend O. P. Oulevey F. et al. 1997 How does a tip tap Nanotechnology 8 67-75. 14. Behrend O. P. Oulevey F. Gourdon D. et al. 1998 Intermittent contact Tapping or hammering Appl. Phys. A66 S219-S221. 15. Tamayo J. Humphris A. D. Owen R. J. and Miles M. J. 2001 High-Q dynamic force microscopy in liquid and its application to living cells. Biophys. J. 81 526-537. 16. Magonov S. N. Elings V. and Whangbo . 1997 Phase imaging and stiffness in tapping mode AFM. Surface Sci. 375 L385-L391. 17. Bar G. Delineau L. Brandsch R. Bruch M. and Whangbo . 1999 Importance of the indentation depth in tapping-mode atomic force microscopy study of compliant materials. Appl. Phys. Lett. 75 4198-4200. 18. Bar G. and Brandsch R. 1998 Effect of viscoelastic properties of polymers on the phase shift in tapping mode atomic force microscopy. Langmuir. 14 7343-7347. 19. Cleveland J. P. Anczykowski B. Schmid A. E. and Elings V. B. 1998 nergy dissipation in tappingmode atomic force microscopy. Appl. Phys. Lett. 72 2613-2615. 20. Chen X. Davies M. C. Roberts C. J. Tendler S. J. B. and Williams P. M. 2000 Optimizing phase imaging via dynamic force curves. Surface Sci 460 292-300. 21. Pang G. K. Baba-Kishi K. Z. and Patel A. 2000 Topographic and phasecontrast imaging in atomic force microscopy. Ultramicroscopy 81 2 35-40. 22. Butt H-J. 1991 Measuring electrostatic van der Waals and hydration forces in electrolyte solutions with an atomic force microscope. Biophys. J. 60 1438-1444. 23. Vinckier A. and Semenza G. 1998 Measuring elasticity of biological materials by atomic force microscopy. FEBS Lett. 430 12-16. 24. Hutter Jeffrey L. and John Bechhoefer 1994 Measurement and manipulation of Van der Waals forces in atomic force microscopy. J. Vacuum Sci. Technol. B 12 2251-2253. 25. Cleveland J.

TỪ KHÓA LIÊN QUAN
TAILIEUCHUNG - Chia sẻ tài liệu không giới hạn
Địa chỉ : 444 Hoang Hoa Tham, Hanoi, Viet Nam
Website : tailieuchung.com
Email : tailieuchung20@gmail.com
Tailieuchung.com là thư viện tài liệu trực tuyến, nơi chia sẽ trao đổi hàng triệu tài liệu như luận văn đồ án, sách, giáo trình, đề thi.
Chúng tôi không chịu trách nhiệm liên quan đến các vấn đề bản quyền nội dung tài liệu được thành viên tự nguyện đăng tải lên, nếu phát hiện thấy tài liệu xấu hoặc tài liệu có bản quyền xin hãy email cho chúng tôi.
Đã phát hiện trình chặn quảng cáo AdBlock
Trang web này phụ thuộc vào doanh thu từ số lần hiển thị quảng cáo để tồn tại. Vui lòng tắt trình chặn quảng cáo của bạn hoặc tạm dừng tính năng chặn quảng cáo cho trang web này.