TAILIEUCHUNG - Advances in Solid State Part 16

Tham khảo tài liệu 'advances in solid state part 16', kỹ thuật - công nghệ, cơ khí - chế tạo máy phục vụ nhu cầu học tập, nghiên cứu và làm việc hiệu quả | Scanning Near-field Raman Spectroscopic Microscope 441 AFMf c Polarized SNOM Fig. 14. AFM and SNOM images of GB-MO recorded bits MO disc spec. min. bit length 233nm track pitch 670 nm Hosaka et al. 2007 . 5. Combination of SNOM and Raman spectroscopy Hosaka et al. 2007 We have prototyped the combination system with above system Fig. 6 and Raman spectroscopy of Nanofinder30 which is made by Tokyo Instruments Inc. as shown in Fig. 15. The stimulated laser was used with UV line with a wavelength of nm in Ar ion laser. Figure shows a scheme of optical functions of the system. In practice the spectroscopy was inserted between the TTL type optical lever system and the depolarization optics. The sample with gates and shallow trench insulator STI on Si substrate was prepared for measuring its stress distribution. uv light nm Objective lens 114 AFM cantilever Ị 1 Near-field light I sample I XYZ scanner 3 Gap control with atomic force Fig. 15. Scheme of prototyped SNOM Raman spectroscopic microscopy Hosaka et al. 2007 . 442 Advances in Solid State Circuits Technologies Figure 16 shows Raman spectra change before and after AFM operation when illuminating the UV laser into the inside of aperture-less pyramidal probe. Figure 16 a shows the spectrum under the sample was far from the probe. The Si Raman peak disappeared. Under controlling the system in the contact mode AFM the peak at about 520 cm-1 was obtained. When adjusting the optics and using strong power of UV laser strong signal was obtained as shown in Fig. 16 c . Fig. 16. Raman shift spectra of the silicon sample when illuminating UV light with a wavelength of nm to inside of the pyramidal probe a in separation between the probe and the sample b under contact mode controlling at 20nN and c incident laser power of mW Hosaka et al. 2007 . Figures 17 a and 17 b show spectra detected by the near-field optical Raman spectroscopy NFRS and optical microscopic Raman spectroscopy OMRS at an accumulation

TỪ KHÓA LIÊN QUAN
TAILIEUCHUNG - Chia sẻ tài liệu không giới hạn
Địa chỉ : 444 Hoang Hoa Tham, Hanoi, Viet Nam
Website : tailieuchung.com
Email : tailieuchung20@gmail.com
Tailieuchung.com là thư viện tài liệu trực tuyến, nơi chia sẽ trao đổi hàng triệu tài liệu như luận văn đồ án, sách, giáo trình, đề thi.
Chúng tôi không chịu trách nhiệm liên quan đến các vấn đề bản quyền nội dung tài liệu được thành viên tự nguyện đăng tải lên, nếu phát hiện thấy tài liệu xấu hoặc tài liệu có bản quyền xin hãy email cho chúng tôi.
Đã phát hiện trình chặn quảng cáo AdBlock
Trang web này phụ thuộc vào doanh thu từ số lần hiển thị quảng cáo để tồn tại. Vui lòng tắt trình chặn quảng cáo của bạn hoặc tạm dừng tính năng chặn quảng cáo cho trang web này.