TAILIEUCHUNG - Báo cáo hóa học: " Advanced materials nanocharacterization"

Tuyển tập báo cáo các nghiên cứu khoa học quốc tế ngành hóa học dành cho các bạn yêu hóa học tham khảo đề tài: Advanced materials nanocharacterization | Giannazzo et al. Nanoscale Research Letters 2011 6 107 http content 6 1 107 o Nanoscale Research Letters a SpringerOpen Journal EDITORIAL Open Access Advanced materials nanocharacterization Filippo Giannazzo1 Pierre Eyben2 Jacek Baranowski3 Jean Camassel4 Stefan Lányi5 Abstract This special issue of Nanoscale Research Letters contains scientific contributions presented at the Symposium D Multidimensional Electrical and Chemical Characterization at the Nanometer-scale of Organic and Inorganic Semiconductors of the E-MRS Fall Meeting 2010 which was held in Warsaw Poland from 13th to 17th September 2010. Editorial This special issue of Nanoscale Research Letters contains scientific contributions presented at the Symposium D Multidimensional Electrical and Chemical Characterization at the Nanometer-scale of Organic and Inorganic Semiconductors of the E-MRS Fall Meeting 2010 which was held in Warsaw Poland from 13th to 17th September 2010. The Symposium attended by more than 100 participants from different countries and regions was aimed at bringing together scientists and engineers working on various aspects of semiconductor research in both academic and industrial environments to discuss the metrology aspects and present innovative solutions. Hot topics covered at the symposium were Advanced scanning probe microscopy AFM SCM SSRM SKFM SNOM Advanced electron microscopy HRTEM EFTEM electron-holography . Optical characterization pRaman photo- electroluminescence 2D and 3D chemical mapping of materials at the nanometer scale Metrology in advanced semiconductors Ge SiGe InGaAs SiC GaN AlGaN. semiconductor heterointerfaces and semiconductor nanowires. Characterization of organic materials and carbonbased materials nanotubes graphene . Local measurements morphological electronic and transport properties in graphene with high spatial resolution Correspondence 1CNR-IMM Strada VIII 5 95121 Catania Italy Full list of author .

TÀI LIỆU LIÊN QUAN
TAILIEUCHUNG - Chia sẻ tài liệu không giới hạn
Địa chỉ : 444 Hoang Hoa Tham, Hanoi, Viet Nam
Website : tailieuchung.com
Email : tailieuchung20@gmail.com
Tailieuchung.com là thư viện tài liệu trực tuyến, nơi chia sẽ trao đổi hàng triệu tài liệu như luận văn đồ án, sách, giáo trình, đề thi.
Chúng tôi không chịu trách nhiệm liên quan đến các vấn đề bản quyền nội dung tài liệu được thành viên tự nguyện đăng tải lên, nếu phát hiện thấy tài liệu xấu hoặc tài liệu có bản quyền xin hãy email cho chúng tôi.
Đã phát hiện trình chặn quảng cáo AdBlock
Trang web này phụ thuộc vào doanh thu từ số lần hiển thị quảng cáo để tồn tại. Vui lòng tắt trình chặn quảng cáo của bạn hoặc tạm dừng tính năng chặn quảng cáo cho trang web này.