TAILIEUCHUNG - SCANNING PROBE MICROSCOPY ELECTRICAL AND ELECTROMECHANICAL PHENOMENA AT THE NANOSCALE Volume II

Progress in modern science is impossible without reliable tools for characterization of structural, physical, and chemical properties of materials and devices at the micro-, nano-, and atomic scale levels. While structural information can be obtained by such established techniques as scanning and transmission electron microscopy, high-resolution examination of local electronic structure, electric potential and chemical functionality is a much more daunting problem. | SCANNING PROBE MICROSCOPY Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale Sergei Kalinin Alexei Gruverman EDITORS VOLUME 1 Springer SCANNING PROBE MICROSCOPY SCANNING PROBE MICROSCOPY ELECTRICAL AND ELECTROMECHANICAL PHENOMENA AT THE NANOSCALE Volume II Sergei Kalinin Alexei Gruverman .

TỪ KHÓA LIÊN QUAN
TAILIEUCHUNG - Chia sẻ tài liệu không giới hạn
Địa chỉ : 444 Hoang Hoa Tham, Hanoi, Viet Nam
Website : tailieuchung.com
Email : tailieuchung20@gmail.com
Tailieuchung.com là thư viện tài liệu trực tuyến, nơi chia sẽ trao đổi hàng triệu tài liệu như luận văn đồ án, sách, giáo trình, đề thi.
Chúng tôi không chịu trách nhiệm liên quan đến các vấn đề bản quyền nội dung tài liệu được thành viên tự nguyện đăng tải lên, nếu phát hiện thấy tài liệu xấu hoặc tài liệu có bản quyền xin hãy email cho chúng tôi.
Đã phát hiện trình chặn quảng cáo AdBlock
Trang web này phụ thuộc vào doanh thu từ số lần hiển thị quảng cáo để tồn tại. Vui lòng tắt trình chặn quảng cáo của bạn hoặc tạm dừng tính năng chặn quảng cáo cho trang web này.