TAILIEUCHUNG - Logic kỹ thuật số thử nghiệm và mô phỏng P9

Numerous ATPG algorithms and heuristics have been developed over the years to test digital logic circuits. Some of these methods can trace their origins back to the very beginnings of the digital logic era. Unfortunately, they have proven inadequate to the task. Despite many novel and interesting schemes designed to attack test problems in digital circuits, circuit complexity and the sheer number of logic devices on a die continue to outstrip the test schemes that have been developed, and there does not appear to be an end in sight, as levels of circuit integration continue to grow unabated. New methods. | CHAPTER 9 Built-In Self-Test INTRODUCTION Numerous ATPG algorithms and heuristics have been developed over the years to test digital logic circuits. Some of these methods can trace their origins back to the very beginnings of the digital logic era. Unfortunately they have proven inadequate to the task. Despite many novel and interesting schemes designed to attack test problems in digital circuits circuit complexity and the sheer number of logic devices on a die continue to outstrip the test schemes that have been developed and there does not appear to be an end in sight as levels of circuit integration continue to grow unabated. New methods for testing and verifying physical integrity are being researched and developed. Where once the need for concessions to testability was questioned now if there is any debate at all it usually centers on what kind of testability enhancements should be employed. However even with design-for-testability DFT guidelines difficulties remain. Circuits continue to grow in both size and complexity. When operating at higher clock rates and lower voltages circuits are susceptible to performance errors that are not well-modeled by stuck-at faults. As a result there is a growing concern for the effectiveness as well as the cost of developing and applying test programs. Test problems are compounded by the fact that there is a growing need to develop test strategies both for circuits designed in-house and for intellectual property IP acquired from outside vendors. The IP often called core modules or soft cores can range from simple functions to complex microprocessors. For test engineers the problem is compounded by the fact that they must frequently develop effective test strategies for devices when description of internal structure is unavailable. There is a growing need to develop improved test methods for use at customer sites where test equipment is not readily accessible or where the environment cannot be readily duplicated as in .

• Kĩ thuật Viễn thông
• Kỹ thuật số
• logic kỹ thuật số
• thử nghiệm kỹ thuật số
• mô phỏng kỹ thuật số
• xác định thiết bị
• Bài tập môn Kỹ thuật số
• Bài tập môn Kỹ thuật số Phần 1
• Ôn thi Kỹ thuật số
• Bài tập Kỹ thuật số có lời giải
• Tài liệu ôn thi Kỹ thuật số
• Đề thi Kỹ thuật số
• Đề thi Kỹ thuật số có đáp án
• Bài tập Kỹ thuật số
• Câu hỏi Kỹ thuật số
• Đề thi học kỳ 1 Kỹ thuật số
• Xử lý tín hiệu số
• Kỹ thuật truyền số liệu
• Kỹ thuật chuyển mạch
• Thực hành Kỹ thuật số
• Mạch ứng dụng kỹ thuật số
• Kỹ thuật thông tin số
• kỹ thuật số hóa tín hiệu
• kỹ thuật mã hóa đường dây
• kỹ thuật mã hóa nguồn
• kỹ thuật mã hóa kênh
• kỹ thuật ghép kênh
• kỹ thuật điều chế
• kỹ thuật đa truy cập
• giáo trình điện tử số
• kỹ thuật điện tử
• công nghệ điện tử số
• tín hiệu số
• ứng dụng kỹ thuật số
• công nghệ kỹ thuật số
• giáo trình kỹ thuật số
• đề cương kỹ thuật số
• Đại số Boole
• hệ thống số đếm
• Khái quát về tiền kỹ thuật số
• Ngân hàng trung ương
• Tiền kỹ thuật số
• Tiền kỹ thuật số tại Việt Nam
• Quản lý tiền kỹ thuật số
• Tiếng Anh kỹ thuật số
• Từ vựng kỹ thuật số
• Kỹ thuật số tiếng Anh
• Tiếng Anh ngành kỹ thuật
• Ngành kỹ thuật
• Bài giảng Kỹ thuật truyền số liệu
• Kỹ thuật mã hóa
• Kỹ thuật đồng bộ
• Kỹ thuật truy nhập đường truyền
• Kỹ thuật nén dữ liệu
• bài giải kỹ thuật số
• ôn tập kỹ thuật số
• môn kỹ thuật số