TAILIEUCHUNG - Logic kỹ thuật số thử nghiệm và mô phỏng P7

The first five chapters provided a survey of algorithms for logic simulation, fault simulation, and automatic test pattern generation. That was followed by a brief survey of tester architectures and strategies to maximize tester effectiveness while minimizing overall test cost. We now turn our attention to methods for combining the various algorithms and testers in ways that make it possible to achieve quality levels consistent with product requirements and design methodologies. | CHAPTER 7 Developing a Test Strategy INTRODUCTION The first five chapters provided a survey of algorithms for logic simulation fault simulation and automatic test pattern generation. That was followed by a brief survey of tester architectures and strategies to maximize tester effectiveness while minimizing overall test cost. We now turn our attention to methods for combining the various algorithms and testers in ways that make it possible to achieve quality levels consistent with product requirements and design methodologies. It has been recognized for some time now that true automatic test pattern generation is a long way from realization meaning that software capable of automatically generating high-quality tests for most general sequential logic circuits does not currently exist nor is it likely to exist in the forseeable future. Hence it is necessary to incorporate testability structures in digital designs to make them testable. We begin this chapter with a look at the design and test environment. That will provide a framework for discussion of the various topics related to test and will help us to see how the individual pieces fit together. Most importantly by starting with a comprehensive overview of the total design and test process we can identify opportunities to port test stimuli created during design verification into the manufacturing test development process. After examining the design and test environment we will take an in-depth look at fault modeling because in the final analysis the fault model that is chosen will have a significant effect on the quality of the test. Other topics that fit into a comprehensive design and test framework including design-for-test DFT and built-in-self-test BIST will be discussed in subsequent chapters. THE TEST TRIAD Several strategies exist for developing test programs for digital ICs these include Functional vectors Fault-directed vectors IDDQ Digital Logic Testing and Simulation Second Edition by Alexander

• Kĩ thuật Viễn thông
• Kỹ thuật số
• logic kỹ thuật số
• thử nghiệm kỹ thuật số
• mô phỏng kỹ thuật số
• xác định thiết bị
• Bài tập môn Kỹ thuật số
• Bài tập môn Kỹ thuật số Phần 1
• Ôn thi Kỹ thuật số
• Bài tập Kỹ thuật số có lời giải
• Tài liệu ôn thi Kỹ thuật số
• Đề thi Kỹ thuật số
• Đề thi Kỹ thuật số có đáp án
• Bài tập Kỹ thuật số
• Câu hỏi Kỹ thuật số
• Đề thi học kỳ 1 Kỹ thuật số
• Xử lý tín hiệu số
• Kỹ thuật truyền số liệu
• Kỹ thuật chuyển mạch
• Thực hành Kỹ thuật số
• Mạch ứng dụng kỹ thuật số
• Kỹ thuật thông tin số
• kỹ thuật số hóa tín hiệu
• kỹ thuật mã hóa đường dây
• kỹ thuật mã hóa nguồn
• kỹ thuật mã hóa kênh
• kỹ thuật ghép kênh
• kỹ thuật điều chế
• kỹ thuật đa truy cập
• giáo trình điện tử số
• kỹ thuật điện tử
• công nghệ điện tử số
• tín hiệu số
• ứng dụng kỹ thuật số
• công nghệ kỹ thuật số
• giáo trình kỹ thuật số
• đề cương kỹ thuật số
• Đại số Boole
• hệ thống số đếm
• Khái quát về tiền kỹ thuật số
• Ngân hàng trung ương
• Tiền kỹ thuật số
• Tiền kỹ thuật số tại Việt Nam
• Quản lý tiền kỹ thuật số
• Tiếng Anh kỹ thuật số
• Từ vựng kỹ thuật số
• Kỹ thuật số tiếng Anh
• Tiếng Anh ngành kỹ thuật
• Ngành kỹ thuật
• Bài giảng Kỹ thuật truyền số liệu
• Kỹ thuật mã hóa
• Kỹ thuật đồng bộ
• Kỹ thuật truy nhập đường truyền
• Kỹ thuật nén dữ liệu
• bài giải kỹ thuật số
• ôn tập kỹ thuật số
• môn kỹ thuật số