TAILIEUCHUNG - Báo cáo hóa học: " Micro-Raman Mapping of 3C-SiC Thin Films Grown by Solid–Gas Phase Epitaxy on Si (111)"

Tuyển tập báo cáo các nghiên cứu khoa học quốc tế ngành hóa học dành cho các bạn yêu hóa học tham khảo đề tài: Micro-Raman Mapping of 3C-SiC Thin Films Grown by Solid–Gas Phase Epitaxy on Si (111) | Nanoscale Res Lett 2010 5 1507-1511 DOI s11671-010-9670-6 NANO EXPRESS Micro-Raman Mapping of 3C-SÌC Thin Films Grown by Solid-Gas Phase Epitaxy on Si 111 T. S. Perova J. Wasyluk S. A. Kukushkin A. V. Osipov N. A. Feoktistov S. A. Grudinkin Received 5 May 2010 Accepted 7 June 2010 Published online 20 June 2010 The Author s 2010. This article is published with open access at Abstract A series of 3C-SiC films have been grown by a novel method of solid-gas phase epitaxy and studied by Raman scattering and scanning electron microscopy SEM . It is shown that during the epitaxial growth in an atmosphere of CO 3C-SiC films of high crystalline quality with a thickness of 20 nm up to few hundreds nanometers can be formed on a 111 Si wafer with a simultaneous growth of voids in the silicon substrate under the SiC film. The presence of these voids has been confirmed by SEM and micro-Raman line-mapping experiments. A significant enhancement of the Raman signal was observed in SiC films grown above the voids and the mechanisms responsible for this enhancement are discussed. Keywords 3C-SiC Voids in SiC Micro-Raman spectroscopy Micro-Raman mapping Introduction Silicon carbide SiC is a very attractive material for the fabrication of microelectronic and optoelectronic devices due to its wide bandgap high thermal conductivity T. S. Perova J. Wasyluk Department of Electronic and Electrical Engineering University of Dublin Trinity College Dublin 2 Ireland e-mail perovat@ S. A. Kukushkin A. V. Osipov Institute of Problems of Mechanical Engineering Russian Academy of Sciences IPME RAS Bolshoy 61 . 199178 St. Petersburg Russia N. A. Feoktistov S. A. Grudinkin Ioffe Physical Technical Institute Polytechnicheskaya ul. 26 194021 St. Petersburg Russia excellent thermal and chemical stability and its resistance to radiation damage and electrical breakdown 1 . SiC has over 170 different polytypes 2 . The most common forms are 4H 6H known as the hexagonal .

TÀI LIỆU LIÊN QUAN
TAILIEUCHUNG - Chia sẻ tài liệu không giới hạn
Địa chỉ : 444 Hoang Hoa Tham, Hanoi, Viet Nam
Website : tailieuchung.com
Email : tailieuchung20@gmail.com
Tailieuchung.com là thư viện tài liệu trực tuyến, nơi chia sẽ trao đổi hàng triệu tài liệu như luận văn đồ án, sách, giáo trình, đề thi.
Chúng tôi không chịu trách nhiệm liên quan đến các vấn đề bản quyền nội dung tài liệu được thành viên tự nguyện đăng tải lên, nếu phát hiện thấy tài liệu xấu hoặc tài liệu có bản quyền xin hãy email cho chúng tôi.
Đã phát hiện trình chặn quảng cáo AdBlock
Trang web này phụ thuộc vào doanh thu từ số lần hiển thị quảng cáo để tồn tại. Vui lòng tắt trình chặn quảng cáo của bạn hoặc tạm dừng tính năng chặn quảng cáo cho trang web này.