TAILIEUCHUNG - Handbook of algorithms for physical design automation part 8

Handbook of Algorithms for Physical Design Automation part 8 provides a detailed overview of VLSI physical design automation, emphasizing state-of-the-art techniques, trends and improvements that have emerged during the previous decade. After a brief introduction to the modern physical design problem, basic algorithmic techniques, and partitioning, the book discusses significant advances in floorplanning representations and describes recent formulations of the floorplanning problem. The text also addresses issues of placement, net layout and optimization, routing multiple signal nets, manufacturability, physical synthesis, special nets, and designing for specialized technologies. It includes a personal perspective from Ralph Otten as he looks back on. | 52 Handbook of Algorithms for Physical Design Automation 26. S. Mutoh et al. 1-V power supply high-speed digital circuit technology with multithreshold voltage CMOS. IEEE Journal of Solid-State Circuits 30 8 847-854 August 1995. 27. D. Lee D. Blaauw and D. Sylvester. Static leakage reduction through simultaneous ut tox and state assignment. IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems 24 7 1014-1029 July 2005. 28. K. Kanda K. Nose H. Kawaguchi and T. Sakurai. Design impact of positive temperature dependence on drain current in sub-1-V CMOS VLSIs. IEEE Journal of Solid-State Circuits 36 10 1559-1564 October 2001. 29. V. Gerousis. Design and modeling challenges for 90 nm and 50 nm. In Proceedings of the IEEE Custom Integrated Circuits Conference San Jose CA pp. 353-360 2003. 30. D. K. Schroder. Negative bias temperature instability Road to cross in deep submicron silicon semiconductor manufacturing. Journal of Applied Physics 94 1 1-18 July 2003. 31. M. A. Alam. A critical examination of the mechanics of dynamic NBTI for pMOSFETs. In IEEE International Electronic Devices Meeting Washington . pp. 2003. 32. S. V. Kumar C. H. Kim and S. S. Sapatnekar. An analytical model for negative bias temperature instability NBTI . In Proceedings of the IEEE ACM International Conference on Computer-Aided Design San Jose CA pp. 493-496 2006. 33. A. M. Yassine H. E. Nariman M. McBride M. Uzer and K. R. Olasupo. Time dependent breakdown of ultrathin gate oxide. IEEE Transactions on Electron Devices 47 7 1416-1420 July 2000. 34. J. H. Lienhard and J. H. Lienhard. A Heat Transfer Textbook 3rd edn. Phlogiston Press Cambridge MA 2005. 35. Y. Cheng and S. M. Kang. A temperature-aware simulation environment for reliable ULSI chip design. IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems 19 10 1211-1220 October 2000. 36. T. -Y. Wang and C. C. -P. Chen. 3-D thermal-ADI A linear-time chip level transient thermal .

TỪ KHÓA LIÊN QUAN
TÀI LIỆU MỚI ĐĂNG
10    178    3    24-12-2024
54    149    1    24-12-2024
TAILIEUCHUNG - Chia sẻ tài liệu không giới hạn
Địa chỉ : 444 Hoang Hoa Tham, Hanoi, Viet Nam
Website : tailieuchung.com
Email : tailieuchung20@gmail.com
Tailieuchung.com là thư viện tài liệu trực tuyến, nơi chia sẽ trao đổi hàng triệu tài liệu như luận văn đồ án, sách, giáo trình, đề thi.
Chúng tôi không chịu trách nhiệm liên quan đến các vấn đề bản quyền nội dung tài liệu được thành viên tự nguyện đăng tải lên, nếu phát hiện thấy tài liệu xấu hoặc tài liệu có bản quyền xin hãy email cho chúng tôi.
Đã phát hiện trình chặn quảng cáo AdBlock
Trang web này phụ thuộc vào doanh thu từ số lần hiển thị quảng cáo để tồn tại. Vui lòng tắt trình chặn quảng cáo của bạn hoặc tạm dừng tính năng chặn quảng cáo cho trang web này.