TAILIEUCHUNG - Temperature dependence of anharmonic exafs oscillation of crystalline silicon

In this work, the anharmonic extended X-ray absorption fine structure (EXAFS) oscillation of crystalline silicon (c-Si) is presented in terms of the Debye-Waller factor using the cumulant expansion approach up to the fourthorder. The first four EXAFS cumulant has been calculated based on the classical anharmonic correlated Einstein (ACE) model and suitable analysis procedure, in which thermodynamic parameters are derived from the anharmonic effective potential obtained using the first shell near-neighbor contribution approach. The analysis of the temperature dependence of the EXAFS oscillation is performed via evaluating the influence of the cumulants on the amplitude reduction and the phase shift of the anharmonic EXAFS oscillation. |

TAILIEUCHUNG - Chia sẻ tài liệu không giới hạn
Địa chỉ : 444 Hoang Hoa Tham, Hanoi, Viet Nam
Website : tailieuchung.com
Email : tailieuchung20@gmail.com
Tailieuchung.com là thư viện tài liệu trực tuyến, nơi chia sẽ trao đổi hàng triệu tài liệu như luận văn đồ án, sách, giáo trình, đề thi.
Chúng tôi không chịu trách nhiệm liên quan đến các vấn đề bản quyền nội dung tài liệu được thành viên tự nguyện đăng tải lên, nếu phát hiện thấy tài liệu xấu hoặc tài liệu có bản quyền xin hãy email cho chúng tôi.
Đã phát hiện trình chặn quảng cáo AdBlock
Trang web này phụ thuộc vào doanh thu từ số lần hiển thị quảng cáo để tồn tại. Vui lòng tắt trình chặn quảng cáo của bạn hoặc tạm dừng tính năng chặn quảng cáo cho trang web này.