TAILIEUCHUNG - Creep analysis of bimaterial microcantilever beam for sensing device using artificial neural network (ANN)

In this study, a feed-forward back-propagation Artificial Neural Network (ANN) is used to predict the stress relaxation and behavior of creep for bimaterial microcantilever beam for sensing device. Results obtained from ANSYS® finite element (FE) simulations, which show good agreement with experimental work [1], is used to train the neural network. Parametric studies are carried out to analyze the effects of creep on the microcantilever beam in term of curvature and stress developed with time. It is shown that ANN accurately predicts the stress level for the microcantilever beam using the trained ANSYS® simulation results due to the fact that there is no scattered data in the FE simulation results. ANN takes a small fraction of time and effort compared to FE prediction. | Creep analysis of bimaterial microcantilever beam for sensing device using artificial neural network ANN

TAILIEUCHUNG - Chia sẻ tài liệu không giới hạn
Địa chỉ : 444 Hoang Hoa Tham, Hanoi, Viet Nam
Website : tailieuchung.com
Email : tailieuchung20@gmail.com
Tailieuchung.com là thư viện tài liệu trực tuyến, nơi chia sẽ trao đổi hàng triệu tài liệu như luận văn đồ án, sách, giáo trình, đề thi.
Chúng tôi không chịu trách nhiệm liên quan đến các vấn đề bản quyền nội dung tài liệu được thành viên tự nguyện đăng tải lên, nếu phát hiện thấy tài liệu xấu hoặc tài liệu có bản quyền xin hãy email cho chúng tôi.
Đã phát hiện trình chặn quảng cáo AdBlock
Trang web này phụ thuộc vào doanh thu từ số lần hiển thị quảng cáo để tồn tại. Vui lòng tắt trình chặn quảng cáo của bạn hoặc tạm dừng tính năng chặn quảng cáo cho trang web này.