TAILIEUCHUNG - Bài thuyết trình AFM - Atomic Force Microscope

AFM - Atomic Force Microscope là một thiết bị quan sát cấu trúc vi mô bề mặt của vật rắn dựa trên nguyên tắc xác định lực tương tác nguyên tử giữa một đầu mũi dò nhọn với bề mặt của mẫu, có thể quan sát ở độ phân giải nanômet. Bài thuyết trình AFM - Atomic Force Microscope sau đây tập trung làm rõ vấn đề này. | AFM ATOMIC FORCE MICROSCOPE GV Le Vu Tuan Hung HV Huynh Xuan Nguyen VLĐT K20 INTRODUCTION STM được phát minh năm 1981 bởi Gerd Bingnig và Heinrich Rohrer. I I I AFM được phát minh năm 1986 Gerd Binnig Calvin Quate và Christoph Gerber. STM Scanning Tunnelling Microscope s Đầu dò không chạm vào mẫu s Duy trì dòng điện tử xuyên hầm không đổi s Độ phân giải rất cao x y z s Hạn chế vật liệu dẫn điện AFM Atomic Force Microscope s Đầu dò có thể chạm vào mẫu s Duy trì lực không đổi hoặc khoảng cách đầu dò - mẫu không đổi s Độ phân giải cao x y 1nm z s Thích hợp cho tất cả các bề mặt INTRODUCTION STM độ phân giải cao nhưng giới hạn cho vật liệu dẫn điện. AFM độ phân giải thấp hơn nhưng dùng cho tất cả các loại bề mặt. Là một thiết bị quan sát cấu trúc vi mô bề mặt của vật rắn dựa trên nguyên tắc xác định lực tương tác nguyên tử giữa một đầu mũi dò nhọn với bề mặt của mẫu có thể quan sát ở độ phân giải nanômet. Hiện nay AFM vẫn là loại phổ biến nhất của kính hiển vi đầu dòI .

• Khoa học tự nhiên
• AFM Atomic Force Microscopem
• Bài thuyết trình AFM Atomic Force Microscope
• Cơ chế hoạt động của AFM
• Ứng dụng của AFM
• Đặc điểm của AFM