Đang chuẩn bị liên kết để tải về tài liệu:
Measurement Process Characterization_15

Đang chuẩn bị nút TẢI XUỐNG, xin hãy chờ

Tham khảo tài liệu 'measurement process characterization_15', kỹ thuật - công nghệ, điện - điện tử phục vụ nhu cầu học tập, nghiên cứu và làm việc hiệu quả | 2.6.I.2. Analysis and interpretation Level-2 standard deviations ohm.cm for 5 wafers Run 1 Run 2 DF Average Wafer Stddev Probe DF Average Stddev 138. 2362. 95.0928 0.0359 5 95.1243 0.0453 5 139. 2362. 99.3060 0.0472 5 99.3098 0.0215 5 140. 2362. 96.0357 0.0273 5 96.0765 0.0276 5 141. 2362. 101.0602 0.0232 5 101.0790 0.0537 5 142. 2362. 94.2148 0.0274 5 94.2438 0.0370 5 2362. Pooled 0.0333 25 0.0388 25 over 2 runs 0.0362 50 Level-3 Level-3 standard deviations are computed from the averages of the two stability runs. Then the level-3 standard deviations are pooled over the five Stanford wafers to obtain a standard deviation with 5 degrees of freedom as deviations shown in the table below. computed from run averages and pooled over wafers http www.itl.nist.gov div898 handbook mpc section6 mpc612.htm 3 of 6 5 1 2006 10 13 13 AM 2.6.I.2. Analysis and interpretation Level-3 standard deviations ohm.cm for 5 wafers Wafer Stddev Probe DF Run 1 Average Run 2 Average Diff 138. 2362. 95.0928 95.1243 -0.0315 0.0223 1 139. 2362. 99.3060 99.3098 -0.0038 0.0027 1 140. 2362. 96.0357 96.0765 -0.0408 0.0289 1 141. 2362. 101.0602 101.0790 -0.0188 0.0133 1 142. 2362. 94.2148 94.2438 -0.0290 0.0205 1 2362. 0.0197 5 Pooled Graphs of A graphical analysis shows the relative biases among the 5 probes. For each probe wafer differences from the wafer average by probe are plotted versus wafer biases number. The graphs verify that probe 2362 coded as 5 is biased low relative to the other probes. The bias shows up more strongly after the probes have been in use run 2 . http www.itl.nist.gov div898 handbook mpc section6 mpc612.htm 4 of 6 5 1 2006 10 13 13 AM 2.6.I.2. Analysis and interpretation Formulas for computation of biases f for Biases by probe are shown in the following table. Differences Wafer 1 from Probe the mean Run 1 for each wafer Run 2 probe 2362 138. 1. 0.0248 -0.0119 138. 281. 0.0108 0.0323 138. 283. 0.0193 -0.0258 138. 2062. -0.0175 0.0561 138. 2362. -0.0372 -0.0507 139. 1. .

TAILIEUCHUNG - Chia sẻ tài liệu không giới hạn
Địa chỉ : 444 Hoang Hoa Tham, Hanoi, Viet Nam
Website : tailieuchung.com
Email : tailieuchung20@gmail.com
Tailieuchung.com là thư viện tài liệu trực tuyến, nơi chia sẽ trao đổi hàng triệu tài liệu như luận văn đồ án, sách, giáo trình, đề thi.
Chúng tôi không chịu trách nhiệm liên quan đến các vấn đề bản quyền nội dung tài liệu được thành viên tự nguyện đăng tải lên, nếu phát hiện thấy tài liệu xấu hoặc tài liệu có bản quyền xin hãy email cho chúng tôi.
Đã phát hiện trình chặn quảng cáo AdBlock
Trang web này phụ thuộc vào doanh thu từ số lần hiển thị quảng cáo để tồn tại. Vui lòng tắt trình chặn quảng cáo của bạn hoặc tạm dừng tính năng chặn quảng cáo cho trang web này.