Đang chuẩn bị nút TẢI XUỐNG, xin hãy chờ
Tải xuống
Kính hiển vi điện tử truyền qua (tiếng Anh: transmission electron microscopy, viết tắt: TEM) là một thiết bị nghiên cứu vi cấu trúc vật rắn, sử dụng chùm điện tử có năng lượng cao chiếu xuyên qua mẫu vật rắn mỏng và sử dụng các thấu kính từ để tạo ảnh với độ phóng đại lớn (có thể tới hàng triệu lần), ảnh có thể tạo ra trên màn huỳnh quang, hay trên film quang học, hay ghi nhận bằng các máy chụp kỹ thuật số | Thắc mắc về nội dung thanhlam1910_2006@yahoo.com TÀI LIỆU ÔN THI PHÁT XẠ ĐIỆN TỬ CÁC ỨNG DỤNG CỦA PHÁT XẠ ĐIỆN TỬ BIÊN SOẠN Phạm Thanh Tâm TP HCM 05-2010 MỤC LỤC 1. Kính hiển vi điện tử truyền qua TEM 1 1.1 Giới Thiệu 1 1.2 Lịch sử 1 1.3 Cấu tạo và nguyên lý làm việc của kính hiển vi điện tử truyền qua 2 1.3.1 Súng phóng điện tử2 1.3.2 Các hệ thấu kính và lăng kính_4 1.3.3 Các khẩu độ 5 1.4 Sự tạo ảnh trong TEM 6 1.4.1 Bộ phận ghi nhận và quan sát ảnh_6 1.4.2 Điều kiện tương điểm_7 1.4.3 Ảnh trường sáng trường tối8 1.4.4 Ảnh hiển vi điện tử truyền qua độ phân giải cao_8 1.4.5 Ảnh cấu trúc từ 9 1.5 Xử lý mẫu và các phép phân tích trong TEM 9 1.5.1 Nhiễu xạ điện tử 10 1.5.2 Các phép phân tích tia X 10 1.5.3 Phân tích năng lượng điện tử_10 1.5.4 Xử lý mẫu cho phép đo TEM 10 1.6 Các loại kính hiển vi điện tử truyền qua hiện đại_11 1.6.1 Kính hiển vi điện tử truyền qua truyền thống Conventional TEM - CTEM _11 1.6.2 Kính hiển vi điện tử truyền qua quét Scanning TEM - STEM 11 1.6.3 Toàn ảnh điện tử 12 1.7 Ưu điểm và hạn chế của TEM 12 2. Kính hiển vi điện tử quét SEM 13 2.1 Giới Thiệu 13 2.2 Lược sử về kính hiển vi điện tử quét 13 2.3 Nguyên lý hoạt động và sự tạo ảnh trong SEM 14 2.4 Một số phép phân tích trong SEM 14 2.5 Ưu điểm của kính hiển vi điện tử quét 15 3. Kính hiển vi lực nguyên tử AFM 16 3.1 Giới Thiệu 19 3.2 Nguyên lý của AFM 19 3.3 Các chế độ ghi ảnh__20 3.3.1 Chế độ tiếp xúc chế độ tĩnh .
