TAILIEUCHUNG - Báo cáo hóa học: " Combining scanning probe microscopy and x-ray spectroscopy"

Tuyển tập báo cáo các nghiên cứu khoa học quốc tế ngành hóa học dành cho các bạn yêu hóa học tham khảo đề tài: Combining scanning probe microscopy and x-ray spectroscopy | Fauquet et al. Nanoscale Research Letters 2011 6 308 http content 6 1 308 o Nanoscale Research Letters a SpringerOpen Journal NANO EXPRESS Open Access Combining scanning probe microscopy and x-ray spectroscopy 1 1 1 2 2 3 Carole Fauquet Mael Dehlinger Franck Jandard Sylvain Ferrero Daniel Pailharey Sylvia Larcheri D Cd r s 71 I s 3 II I r I r D I irn I S i 4 A I I I f D I r I I I V I lz A z Ĩ5 A Invni Dr l z-v6 I ĩ r ĩ I 7 s I 6 D r A I l h s A m s I 7 s Z l Roberto Graziola Juris Purans Aniouar Bjeoumikhov Alexei Erko Ivo Zizak Brahim Dahmani and Didier Tonneau 1 Abstract A new versatile tool combining Shear Force Microscopy and X-Ray Spectroscopy was designed and constructed to obtain simultaneously surface topography and chemical mapping. Using a sharp optical fiber as microscope probe it is possible to collect locally the visible luminescence of the sample. Results of tests on ZnO and on ZnWO4 thin layers are in perfect agreement with that obtained with other conventional techniques. Twin images obtained by simultaneous acquisition in near field of surface topography and of local visible light emitted by the sample under X-Ray irradiation in synchrotron environment are shown. Replacing the optical fibre by an X-ray capillary it is possible to collect local X-ray fluorescence of the sample. Preliminary results on Co-Ti sample analysis are presented. Introduction Non destructive tools providing elemental and chemical analysis at high lateral resolution are needed for life and physical sciences. For example electronics or glass industries need sub-100 nm resolution tools for material processing and control RRAM FeRAM smart materials solar cells 1 . During the last ten years numbers of characterization tools were thus developed to obtain with the same apparatus sample imaging and chemical mapping. For example TEM Transmission Electron Microscopy is combined with EELS Electron Energy Loss Spectroscopy techniques to study oxidation states in

TÀI LIỆU LIÊN QUAN
TAILIEUCHUNG - Chia sẻ tài liệu không giới hạn
Địa chỉ : 444 Hoang Hoa Tham, Hanoi, Viet Nam
Website : tailieuchung.com
Email : tailieuchung20@gmail.com
Tailieuchung.com là thư viện tài liệu trực tuyến, nơi chia sẽ trao đổi hàng triệu tài liệu như luận văn đồ án, sách, giáo trình, đề thi.
Chúng tôi không chịu trách nhiệm liên quan đến các vấn đề bản quyền nội dung tài liệu được thành viên tự nguyện đăng tải lên, nếu phát hiện thấy tài liệu xấu hoặc tài liệu có bản quyền xin hãy email cho chúng tôi.
Đã phát hiện trình chặn quảng cáo AdBlock
Trang web này phụ thuộc vào doanh thu từ số lần hiển thị quảng cáo để tồn tại. Vui lòng tắt trình chặn quảng cáo của bạn hoặc tạm dừng tính năng chặn quảng cáo cho trang web này.