TAILIEUCHUNG - Carbon Alloys part 8

Tham khảo tài liệu 'carbon alloys part 8', kỹ thuật - công nghệ, cơ khí - chế tạo máy phục vụ nhu cầu học tập, nghiên cứu và làm việc hiệu quả | Transmission Electron Microscopy 229 Fig. 7. a Debye rings and b a network of diffraction spots. Fig. 8. Kikuchi pattern. 230 Chapter 14 Incident electron beam a Fig. 9. Geometry of a lattice plane and the Kikuchi lines 5 . corresponds to the diffraction spot and can be so indexed. Indeed the mid-line of a Kikuchi pair of hkl plane corresponds to the intersection of the extension of the hkl plane with the film Fig. 9 . A slight tilting of the specimen and hence of the hkl plane results in a shift of the Kikuchi lines. Thus the crystallographic orientation of the specimen and deviations from the exact Bragg condition can be determined accurately. Elemental Analysis X-Rays are generated when electrons interact with matter. With high energy incident electrons inner shell electrons are ejected with characteristic energies and characteristic X-rays are emitted. The energy loss electrons and the characteristic X-rays are used to identify the elements which are interacting with the incident electrons. Figure 10 shows an example of elemental mapping by means of characteristic X-rays. A stacking fault SF lies end-on in a Cu-Si alloy and the line analysis across the stacking fault indicates that copper is segregated onto the stacking fault 13 This segregation of solute atoms onto the SF was predicted theoretically by Suzuki in 1956 and has been called the Suzuki effect. Elemental analysis using energy loss of the electrons EELS is discussed in detail in the following chapter. Transmission Electron Microscopy 231 Distance nm Fig. 10. Elemental mapping by means of characteristic X-rays. The stacking fault lies end on in a Cu-Si alloy. 3 Specimen Preparation by FIB Preparation of thin foil specimens for TEM is a time-consuming and slow procedure. However the technique of focused ion beam FIB milling is receiving attention as a new technique to prepare TEM specimens 6-10 . Figure 11 shows a schematic diagram of the FIB system. Gallium ions are emitted from a liquid gallium .

TỪ KHÓA LIÊN QUAN
TAILIEUCHUNG - Chia sẻ tài liệu không giới hạn
Địa chỉ : 444 Hoang Hoa Tham, Hanoi, Viet Nam
Website : tailieuchung.com
Email : tailieuchung20@gmail.com
Tailieuchung.com là thư viện tài liệu trực tuyến, nơi chia sẽ trao đổi hàng triệu tài liệu như luận văn đồ án, sách, giáo trình, đề thi.
Chúng tôi không chịu trách nhiệm liên quan đến các vấn đề bản quyền nội dung tài liệu được thành viên tự nguyện đăng tải lên, nếu phát hiện thấy tài liệu xấu hoặc tài liệu có bản quyền xin hãy email cho chúng tôi.
Đã phát hiện trình chặn quảng cáo AdBlock
Trang web này phụ thuộc vào doanh thu từ số lần hiển thị quảng cáo để tồn tại. Vui lòng tắt trình chặn quảng cáo của bạn hoặc tạm dừng tính năng chặn quảng cáo cho trang web này.