TAILIEUCHUNG - ASM Metals Handbook - Desk Edition (ASM_ 1998) WW part 15

Tham khảo tài liệu 'asm metals handbook - desk edition (asm_ 1998) ww part 15', kỹ thuật - công nghệ, cơ khí - chế tạo máy phục vụ nhu cầu học tập, nghiên cứu và làm việc hiệu quả | paragraphs provide brief summaries of two of the methods that are frequently used in metallurgical studies and comparisons of their capabilities with those of the scanning Auger microprobe. Secondary ion mass spectroscopy SIMS directs a finely focused beam of energetic ions onto the sample surface then it collects and analyzes the ionized atoms or clusters of atoms ejected from the sample surface by this beam. Information can be obtained with lateral spatial resolution of 100 to 500 nm. The ions removed from the surface are identified by a highly sensitive mass spectrometer. This identification provides for very sensitive detection of many elements often in the parts per billion ppb range. In addition it enables analysis for very low atomic number elements including hydrogen. SIMS is the only method able to detect hydrogen with microscopic spatial resolution. The primary ion beam can be rastered over the surface providing for high-sensitivity elemental mapping. Because it removes material from the surface it also provides for depth profiling. X-ray photoelectron spectroscopy XPS directs a single energy x-ray beam onto the surface. This beam penetrates 10 to 100 m into the sample interacting with atoms and ejecting photoelectrons from their inner shells. The energies of these photoelectrons are equal to the energy of the x-ray photons minus the characteristic electron binding energies. Many of the photoelectrons lose some or all of their energy in interactions with other atoms but a few that are generated very close to the surface exit the sample undisturbed. The photoelectrons are collected and their energies analyzed using a device similar to the cylindrical mirror in a SAM. Analysis of the energies of the photoelectrons permits identification of the elements in the top few atomic layers. The excellent energy resolution of the analyzer enables it to discriminate the very small shifts in energy that result from bonding of the atoms of interest to other surrounding

TỪ KHÓA LIÊN QUAN
TAILIEUCHUNG - Chia sẻ tài liệu không giới hạn
Địa chỉ : 444 Hoang Hoa Tham, Hanoi, Viet Nam
Website : tailieuchung.com
Email : tailieuchung20@gmail.com
Tailieuchung.com là thư viện tài liệu trực tuyến, nơi chia sẽ trao đổi hàng triệu tài liệu như luận văn đồ án, sách, giáo trình, đề thi.
Chúng tôi không chịu trách nhiệm liên quan đến các vấn đề bản quyền nội dung tài liệu được thành viên tự nguyện đăng tải lên, nếu phát hiện thấy tài liệu xấu hoặc tài liệu có bản quyền xin hãy email cho chúng tôi.
Đã phát hiện trình chặn quảng cáo AdBlock
Trang web này phụ thuộc vào doanh thu từ số lần hiển thị quảng cáo để tồn tại. Vui lòng tắt trình chặn quảng cáo của bạn hoặc tạm dừng tính năng chặn quảng cáo cho trang web này.