TAILIEUCHUNG - ENCYCLOPEDIA OF MATERIALS CHARACTERIZATIONC phần 2

Bốn kỹ thuật bao gồm trong chương này đều có kính hiển vi trong tên của họ. Vai trò của họ (nhưng chắc chắn không phải chỉ duy nhất của họ) để cung cấp một hình ảnh phóng đại. Mục tiêu, đơn giản nhất, là quan sát các tính năng vượt quá độ phân giải của mắt người (khoảng 100). Kể từ khi mắt sử dụng ánh sáng bước sóng có thể nhìn thấy, | 2 IMAGING TECHNIQUES MICROSCOPY Light Microscopy 60 Scanning Electton Microscopy SEM 70 Scanning Tunneling Scanning Force Microscopy STM and SFM 85 Transmission Electron Microscopy TEM 99 INTRODUCTION The four techniques included in this chapter all have microscopy in their names. Their role but certainly not only their only one is to provide a magnified image. The objective at its simplest is to observe features that are beyond the resolution of the human eye about 100 pm . Since the eye uses visible wavelength light only a Light Microscope can do this direcdy. Reflected or transmitted light from the sample enters the eye after passing through a magnification column. All other microscopy imaging techniques use some other interaction probe and response signal usually electrons to provide the contrast that produces an image. The response signal image or map is then processed in some way to provide an optical equivalent picture for US to see. We usually think of images as three dimensional with the object as solid. The microscopies have different capabilities not only in terms of magnification and lateral resolution but also in their ability to represent depth. In the light microscope topological contrast is provided largely by shadowing in reflection. In Scanning Electron Microscopy SEM the topological contrast is there because the efficiency of generating secondary electrons the signal which originate from the several top tens of nanometers of material strongly depends on the angle at which the probe beam strikes the surface. In Scanning Tunneling Microscopy Scanning Force Microscopy STM SFM the surface is directly profiled by scanning a tip capable of following topology at atomic-scale resolution 57 across the surface. In Transmission Electron Microscopy TEM which can also achieve atomic-scale lateral resolution no depth information is obtained because the technique works by having the probe electron beam transmined through a sample that is up

TỪ KHÓA LIÊN QUAN
TAILIEUCHUNG - Chia sẻ tài liệu không giới hạn
Địa chỉ : 444 Hoang Hoa Tham, Hanoi, Viet Nam
Website : tailieuchung.com
Email : tailieuchung20@gmail.com
Tailieuchung.com là thư viện tài liệu trực tuyến, nơi chia sẽ trao đổi hàng triệu tài liệu như luận văn đồ án, sách, giáo trình, đề thi.
Chúng tôi không chịu trách nhiệm liên quan đến các vấn đề bản quyền nội dung tài liệu được thành viên tự nguyện đăng tải lên, nếu phát hiện thấy tài liệu xấu hoặc tài liệu có bản quyền xin hãy email cho chúng tôi.
Đã phát hiện trình chặn quảng cáo AdBlock
Trang web này phụ thuộc vào doanh thu từ số lần hiển thị quảng cáo để tồn tại. Vui lòng tắt trình chặn quảng cáo của bạn hoặc tạm dừng tính năng chặn quảng cáo cho trang web này.