TAILIEUCHUNG - Recent Advances in Mechatronics - Ryszard Jabonski et al (Eds) Episode 2 Part 4

Tham khảo tài liệu 'recent advances in mechatronics - ryszard jabonski et al (eds) episode 2 part 4', kỹ thuật - công nghệ, cơ khí - chế tạo máy phục vụ nhu cầu học tập, nghiên cứu và làm việc hiệu quả | 504 M. Tabe R. Nuryadi Z. A. Burhanudin D. Moraru K. Yokoi H. Ikeda Fig. 5 Random-telegraph-signal observed for the dark and light-illuminated conditions. The frequency of the RTS increases with decreasing wavelength. This current switching in RTS is ascribed to individual photon absorption. In order to improve the quantum efficiency we have tried to detect photons absorbed in the underlying Si substrate by changing the substrate structure from n -Si to p on p layered one. As a preliminary result we succeeded in detecting individual boron ions by monitoring the single-hole-tunneling current 9 . References 1 D. V. Averin and K. K. Likharev Single charge tunneling edited by H. Grabert and M Devoret Plenum New York 1992 . 2 L. J. Geerligs V. F. Anderegg P. A. M. Holweg J. E. Mooij H. Pothier D. Esteve C. Urbina and M. H. Devoret Phys. Rev. Lett. 64 2691 1990 . 3 H. Pothier P. Lafarge C. Urbina D. Esteve and M. H. Devoret Europhys. Lett. 17 249 1992 . 4 H. Ikeda and M. Tabe . Phys. 99 073705 2006 . 5 and unpublished. 6 and IEEE Trans. Nanotech-nol. 2 231 2003 . 7 R. Nuryadi H. Ikeda Y. Ishikawa and M. Tabe Appl. Phys. Lett. 86 133106 2005 . 8 R. Nuryadi Y. Ishikawa and M. Tabe Phys. Rev. B 73 045310 2005 . 9 Z. A. Burhanudin and M. Tabe unpublished. Calibration of normal force in atomic force microscope M. Ekwinska G. Ekwinski Z. Rymuza Warsaw University of Technology Institute of Micromechanics and Photonics Sw. A. Boboli 8 Warsaw 02-525 Poland. Abstract Investigation with the use of the atomic force microscope enables to estimate material properties in micro nanometer scale. During such investigation load applied by the sensor in this case cantilever on the investigated surface is a crucial parameter. Under that circumstances there were elaborated several methods of normal force calibration. In this work a new calibration method with calibration gratings is proposed as well as .

TỪ KHÓA LIÊN QUAN
TAILIEUCHUNG - Chia sẻ tài liệu không giới hạn
Địa chỉ : 444 Hoang Hoa Tham, Hanoi, Viet Nam
Website : tailieuchung.com
Email : tailieuchung20@gmail.com
Tailieuchung.com là thư viện tài liệu trực tuyến, nơi chia sẽ trao đổi hàng triệu tài liệu như luận văn đồ án, sách, giáo trình, đề thi.
Chúng tôi không chịu trách nhiệm liên quan đến các vấn đề bản quyền nội dung tài liệu được thành viên tự nguyện đăng tải lên, nếu phát hiện thấy tài liệu xấu hoặc tài liệu có bản quyền xin hãy email cho chúng tôi.
Đã phát hiện trình chặn quảng cáo AdBlock
Trang web này phụ thuộc vào doanh thu từ số lần hiển thị quảng cáo để tồn tại. Vui lòng tắt trình chặn quảng cáo của bạn hoặc tạm dừng tính năng chặn quảng cáo cho trang web này.