TAILIEUCHUNG - Measurement Process Characterization_15

Tham khảo tài liệu 'measurement process characterization_15', kỹ thuật - công nghệ, điện - điện tử phục vụ nhu cầu học tập, nghiên cứu và làm việc hiệu quả | . Analysis and interpretation Level-2 standard deviations for 5 wafers Run 1 Run 2 DF Average Wafer Stddev Probe DF Average Stddev 138. 2362. 5 5 139. 2362. 5 5 140. 2362. 5 5 141. 2362. 5 5 142. 2362. 5 5 2362. Pooled 25 25 over 2 runs 50 Level-3 Level-3 standard deviations are computed from the averages of the two stability runs. Then the level-3 standard deviations are pooled over the five Stanford wafers to obtain a standard deviation with 5 degrees of freedom as deviations shown in the table below. computed from run averages and pooled over wafers http div898 handbook mpc section6 3 of 6 5 1 2006 10 13 13 AM . Analysis and interpretation Level-3 standard deviations for 5 wafers Wafer Stddev Probe DF Run 1 Average Run 2 Average Diff 138. 2362. 1 139. 2362. 1 140. 2362. 1 141. 2362. 1 142. 2362. 1 2362. 5 Pooled Graphs of A graphical analysis shows the relative biases among the 5 probes. For each probe wafer differences from the wafer average by probe are plotted versus wafer biases number. The graphs verify that probe 2362 coded as 5 is biased low relative to the other probes. The bias shows up more strongly after the probes have been in use run 2 . http div898 handbook mpc section6 4 of 6 5 1 2006 10 13 13 AM . Analysis and interpretation Formulas for computation of biases f for Biases by probe are shown in the following table. Differences Wafer 1 from Probe the mean Run 1 for each wafer Run 2 probe 2362 138. 1. 138. 281. 138. 283. 138. 2062. 138. 2362. 139. 1. .

TỪ KHÓA LIÊN QUAN
Đã phát hiện trình chặn quảng cáo AdBlock
Trang web này phụ thuộc vào doanh thu từ số lần hiển thị quảng cáo để tồn tại. Vui lòng tắt trình chặn quảng cáo của bạn hoặc tạm dừng tính năng chặn quảng cáo cho trang web này.