TAILIEUCHUNG - Solid State Circuits Technologies Part 5

Tham khảo tài liệu 'solid state circuits technologies part 5', kỹ thuật - công nghệ, cơ khí - chế tạo máy phục vụ nhu cầu học tập, nghiên cứu và làm việc hiệu quả | 112 Solid State Circuits Technologies Global Ơ 20mV Local ơ 20mV Model prediction Fig. 9. The mean and standard deviation degradation of leakage. Aging model extraction Technology and operation information A and Sv extraction Fresh standard cell library TdOj IDDQi and St extraction Fresh Vth variations cell library Circuit Aged standard netlist Aging aware statistical circuit performance analysis Ĩ Prediction of mean and variance of circuit performance Fig. 10. Statistical circuit performance analysis flow. 1. Model parameter extraction. Given technology and operating condition information A and Sv are extracted. Given standard cell performance library Td0i IDDQi and St are extracted. For more details about parameter extraction please refer to Wang et al. 2007 and Section . 2. Substituting all the parameters into Equations 13 21 and 24 we obtain the aged standard cell performance library. The cell timing and leakage are functions of transistor global and local Vth variations and stress time. Statistical Prediction of Circuit Aging under Process Variations 113 3. Generating two statistical distribution of transistor fresh Vth variations one is for global variation and the other is for local variation. Their means are 0 and standard deviations are determined by the manufacturing process. 4. Given circuit netlist random assign Vth variations from the generated distribution to each transistor. With specified Vth variations the cell timing and leakage of the aged standard cell library are only function of stress time. 5. Given stress time using circuit performance analyzer with the aged standard cell library we get the circuit performance degradation. For example we want to do timing analysis for given circuit. Since the aged library provides each cell timing information the path timing is obtained by adding up all the individual cell timings in the path. We can do leakage analysis in the same way. 6. For circuit performance distribution prediction given initial .

TỪ KHÓA LIÊN QUAN
TAILIEUCHUNG - Chia sẻ tài liệu không giới hạn
Địa chỉ : 444 Hoang Hoa Tham, Hanoi, Viet Nam
Website : tailieuchung.com
Email : tailieuchung20@gmail.com
Tailieuchung.com là thư viện tài liệu trực tuyến, nơi chia sẽ trao đổi hàng triệu tài liệu như luận văn đồ án, sách, giáo trình, đề thi.
Chúng tôi không chịu trách nhiệm liên quan đến các vấn đề bản quyền nội dung tài liệu được thành viên tự nguyện đăng tải lên, nếu phát hiện thấy tài liệu xấu hoặc tài liệu có bản quyền xin hãy email cho chúng tôi.
Đã phát hiện trình chặn quảng cáo AdBlock
Trang web này phụ thuộc vào doanh thu từ số lần hiển thị quảng cáo để tồn tại. Vui lòng tắt trình chặn quảng cáo của bạn hoặc tạm dừng tính năng chặn quảng cáo cho trang web này.