TAILIEUCHUNG - Studies on correlation and path analysis for spot blotch disease resistance and yield parameters in F2 segregating population of durum wheat (Triticum durum L.)

The experiment was conducted to examine the nature of association among seed yield, its component traits and spot blotch resistance traits in F2 population of the cross Bijaga yellow x NIDW-295. Simple correlation analysis revealed that the significant positive correlation of spot blotch resistance traits such as disease severity (%) and AUDPC showed that highly significant and negative association with number of tillers per plant, spike length, number of spikelets per spike, number of grain per spike, thousand grain weight and seed yield per plant implies that indirect selection for these traits helps in development of spot blotch resistant genotypes. | Nội dung Text Studies on correlation and path analysis for spot blotch disease resistance and yield parameters in F2 segregating population of durum wheat Triticum durum L.

TỪ KHÓA LIÊN QUAN
TAILIEUCHUNG - Chia sẻ tài liệu không giới hạn
Địa chỉ : 444 Hoang Hoa Tham, Hanoi, Viet Nam
Website : tailieuchung.com
Email : tailieuchung20@gmail.com
Tailieuchung.com là thư viện tài liệu trực tuyến, nơi chia sẽ trao đổi hàng triệu tài liệu như luận văn đồ án, sách, giáo trình, đề thi.
Chúng tôi không chịu trách nhiệm liên quan đến các vấn đề bản quyền nội dung tài liệu được thành viên tự nguyện đăng tải lên, nếu phát hiện thấy tài liệu xấu hoặc tài liệu có bản quyền xin hãy email cho chúng tôi.
Đã phát hiện trình chặn quảng cáo AdBlock
Trang web này phụ thuộc vào doanh thu từ số lần hiển thị quảng cáo để tồn tại. Vui lòng tắt trình chặn quảng cáo của bạn hoặc tạm dừng tính năng chặn quảng cáo cho trang web này.