TAILIEUCHUNG - Nghiên cứu phát triển hệ đo độ dày vật liệu thủy tinh nhiều lớp dựa trên công nghệ giao thoa ánh sáng xung lược

Phương pháp đo biên dạng bề mặt (surface profile) và đo cắt lớp độ dày vật liệu (tomograms) dựa trên giao thoa ánh sáng phổ rộng được phát triển trong nghiên cứu này. Bộ cộng hưởng Fabry-Perot được sử dụng để tạo ra một nguồn sáng phát tần số xung lược nhằm mở rộng khoảng đo theo chiều sâu. Cách tử nhiễu xạ (diffraction grating) được đặt bên trong bộ giao thoa ánh sáng, cho phép thực hiện các phép đo biên dạng bề mặt và đo cắt lớp độ dày vật liệu trong không gian 2 chiều chỉ với một khung ảnh trên camera CCD. Các vân giao thoa với các bậc vân riêng biệt tương ứng với bậc của tần số xung lược được ghi lại bởi một CCD camera trong thời gian thực. Thông tin biên dạng và độ dày các lớp của mẫu vật là các lớp (tấm thủy tinh nhiều lớp) có thể được tính toán từ vị trí của vân giao thoa trên CCD camera và bậc tương ứng của các vân. Trong hệ đo này, độ phân giải của phép đo cắt lớp độ dày và đo biên dạng lần lượt đạt được là 8 μm và 0,7 μm; phạm vi đo của hệ có thể đạt được là 30 mm. | Nghiên cứu phát triển hệ đo độ dày vật liệu thủy tinh nhiều lớp dựa trên công nghệ giao thoa ánh sáng xung lược Khoa học Kỹ thuật và Công nghệ Nghiên cứu phát triển hệ đo độ dày vật liệu thủy tinh nhiều lớp dựa trên công nghệ giao thoa ánh sáng xung lược Bành Quốc Tuấn1*, Phạm Đức Quang1, Nguyễn Quốc Đạt2, Trương Công Tuấn3, 4, Shioda Tatsutoshi3 1 Phòng thí nghiệm Nghiên cứu phát triển ứng dụng fiber laser, Viện Ứng dụng Công nghệ 2 Trung tâm Ươm tạo công nghệ và Doanh nghiệp khoa học công nghê, Viện Ứng dụng Công nghệ 3 Viện Sau đại học về khoa học và kỹ thuật, Đại học Saitama, Nhật Bản 4 Viện Cơ khí, Trường Đại học Bách khoa Hà Nội Ngày nhận bài 5/11/2018; ngày chuyển phản biện 8/11/2018; ngày nhận phản biện 11/12/2018; ngày chấp nhận đăng 21/12/2018 Tóm tắt: Phương pháp đo biên dạng bề mặt (surface profile) và đo cắt lớp độ dày vật liệu (tomograms) dựa trên giao thoa ánh sáng phổ rộng được phát triển trong nghiên cứu này. Bộ cộng hưởng Fabry-Perot được sử dụng để tạo ra một nguồn sáng phát tần số xung lược nhằm mở rộng khoảng đo theo chiều sâu. Cách tử nhiễu xạ (diffraction grating) được đặt bên trong bộ giao thoa ánh sáng, cho phép thực hiện các phép đo biên dạng bề mặt và đo cắt lớp độ dày vật liệu trong không gian 2 chiều chỉ với một khung ảnh trên camera CCD. Các vân giao thoa với các bậc vân riêng biệt tương ứng với bậc của tần số xung lược được ghi lại bởi một CCD camera trong thời gian thực. Thông tin biên dạng và độ dày các lớp của mẫu vật là các lớp (tấm thủy tinh nhiều lớp) có thể được tính toán từ vị trí của vân giao thoa trên CCD camera và bậc tương ứng của các vân. Trong hệ đo này, độ phân giải của phép đo cắt lớp độ dày và đo biên dạng lần lượt đạt được là 8 μm và 0,7 μm; phạm vi đo của hệ có thể đạt được là 30 mm. Từ khóa: ảnh giao thoa ánh sáng, chụp cắt lớp, đo biên dạng, giao thoa ánh sáng. Chỉ số phân loại: Đặt vấn đề của các nhà nghiên cứu trên thế giới vì độ chính xác cao .

• Vật lý
• Vật liệu thủy tinh nhiều lớp
• Công nghệ giao thoa ánh sáng xung lược
• Ánh sáng xung lược
• Phát triển hệ đo độ dày
• Đo biên dạng
• Luận văn Thạc sĩ
• Luận văn Thạc sĩ Kĩ thuật
• Thiết kế thiết bị đo biên dạng
• Chế tạo thiết bị đo biên dạng
• Nguyên tắc số hóa kiểu robot
• Công nghệ cơ khí
• Quét nhanh biên dạng 3D
• Quét biên dạng chi tiết tròn xoay
• Quét biên dạng độ chính xác cao
• Thiết bị quét laser 3D
• Kỹ thuật Laser trong chế tạo cơ khí
• Chế tạo cơ khí
• Kỹ thuật Laser
• Đo biên dạng bề mặt chi tiết
• Đo độ nhám bề mặt chi tiết
• Phương pháp quét tia truyền qua
• Nguyên lí đo của máy quét 3D laser
• Tóm tắt Luận án Tiến sĩ
• Luận án Tiến sĩ
• Luận án Tiến sĩ Kỹ thuật cơ khí
• Đo lường biên dạng 3D
• Ánh sáng cấu trúc
• Thiết bị đo sử dụng ánh sáng cấu trúc
• Đo lường biên dạng chi tiết tròn xoay
• Phương pháp quét laser
• Cảm biến đo Laser Scan Micrometer
• Vẽ và thiết kế trên máy tính
• Giáo trình Thực hành kỹ thuật đo lường
• Thực hành kỹ thuật đo lường
• Phương pháp bảo quản dụng cụ đo
• Máy chiếu biên dạng
• Máy đo độ nhám
• Tạp chí Khoa học Công nghệ
• Nhận dạng biên độ và góc pha
• Biến đổi Fourier
• Thuật toán Levenberg–Marquardt
• Thuật toán Gradient Descent
• Tín hiệu điện áp
• Đo lường hệ thống điện
• Ghép nối mạch
• Biên độ đa kênh
• Vi mạch LattePanda
• Thiết bị hạt nhân dạng di động
• Ghi đo bức xạ
• luận văn
• công nghệ chế tạo máy
• gia công VMC
• máy công cụ
• gia công bề mặt
• máy đo gia công
• Chương trình đọc phổ bức xạ gamma
• Chương trình xử lý phổ nâng cao
• Vật lý hạt nhân
• Ghi đo bức xạ gamma
• Phổ bức xạ biên độ